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SUMMARY:有機・高分子材料研究会
DESCRIPTION:テーマ\n「有機・高分子材料への小角散乱解析法の展開」（第2回） \n開催趣旨\n　電子顕微鏡も小角散乱法もナノスケールの構造解析手法でありますが、電子顕微鏡は実空間の2 次元像を取得できるのに対し、小角散乱法は波数空間の1 次元射影成分しか取得できません。そのため、多くの場合ピーク\nを持たないのっぺりとした散乱プロファイルを解析するためには、複数のモデルの中からそれらしいものを仮定しなくてはなりません。\n 　また、J-PARC およびJRR-3 研究用原子炉で得られる中性子のフラックスは市販のX 線小角散乱装置のX 線のフラックスと同程度、放射光X 線の1/100000 程度でしかありません。それにもかかわらず、多くのユーザーが国内・国外の中性子施設に出向き実験を行っています。 \n　なぜ彼らはそこまでして中性子小角散乱法に固執するのでしょうか？ \n　本講演ではJRR-3 の中性子小角散乱装置SANS-J を用いた研究例を紹介しながらその理由に言及します。 \n主催\n中性子産業利用推進協議会（IUSNA） \n総合科学研究機構（CROSS）中性子科学センター \n共催\n茨城県中性子利用研究会 \n協賛\nJ-PARC MLF利用者懇談会
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