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SUMMARY:平成27年度薄膜・界面研究会
DESCRIPTION:平成27年度薄膜・界面研究会\n「中性子反射率測定による薄膜・界面の理解」をテーマとし、反射率測定に基づく材料薄膜および界面の解析法について解説します。また、J-PARC/MLFに設置された反射率計の現状とそれを用いたソフトマター界面に関する研究成果も紹介します。反射率計による材料評価に関心をお持ちの皆様の参加をお待ちしています。\n開催日時\n2015年10月1日（木） 10:00～17:00 \n場所\n研究社英語センター 地下2階 大会議室〒162-0825 新宿区神楽坂1-2Tel: 03-3269-4331 \nJR中央・総武線飯田橋駅西口徒歩約3分東京メトロ南北線・有楽町線飯田橋駅B2a、B3出口徒歩約7分 \n参加費\n無料ですが、資料代として¥5\,000いただきます。なお、中性子産業利用推進協議会の会員の方と大学、研究機関の方は無料です。それ以外の方は事務局までご相談ください。資料代は当日徴収いたします。 \n協議会参加の企業・団体については中性子産業利用推進協議会のホームページ でご確認ください。 \n申込方法\n下記の内容をご記入のうえ、メールでお申し込みください。——————————————– (1) お名前 (2) ご所属 (3) ご連絡先 （電話番号、メールアドレス） (4) 交流会に  参加する / 参加しない＊交流会への参加を当日キャンセルされた場合、会費をいただきますのでご了承ください。——————————————– \n【申込み、問い合わせ先】中性子産業利用推進協議会事務局 大内薫Email: info＠j-neutron.com \n交流会\n神楽坂の「ラ・カシェット」で交流会を開催します。施設側とユーザーのざっくばらんな意見の交換の場になります。ぜひご参加ください。参加希望者は事前に登録してください。当日も受け付けます。会費は当日いただきます。 \n\n\n会費:\n¥2\,000\n\n\n時間:\n17:10～19:10\n\n\n会場:\n神楽坂 ラ・カシェット〒162-0825 東京都新宿区神楽坂1-10 三経第22 ビル3FTel: 03-3513-0823\n\n\n \nプログラム\n\n\n10:00 – 10:05\n趣旨説明\n主査田中敬二（九州大学）\n\n\n10：05 – 10:30\nJ-PARCの現状と中性子の産業利用\n林 眞琴（茨城県）\n\n\n10:30 – 11:30\n中性子反射率法の基礎\n山田悟史（KEK）\n\n\n10:30 – 11:45\n中性子反射率計SOFIAについて\n山田悟史（KEK）\n\n\n11:45 – 12:10\n中性子反射率計SHARAKUと偏極解析について\n武田全康（JAEA）\n\n\n12:10 – 13:10\n昼食\n \n\n\n13:10- 13:30\n中性子反射率法による機能性高分子ブラシの解析\n高原 淳（九州大学）\n\n\n13:30 – 13:50\n中性子反射率法によるトライボロジー研究\n平山朋子（同志社大学）\n\n\n13:50 – 14:10\n高分子量成分の添加による高分子薄膜の脱濡れ抑制メカニズム\n鳥飼直也（三重大学）\n\n\n14:10 – 14:30\n鏡面・非鏡面中性子反射法による高分子薄膜の構造解析\n小川紘樹（京都大学）\n\n\n14:30 – 14:50\n中性子反射率法を用いた偏析による高分子ブラシの観察\n横山英明（東京大学）\n\n\n14:50 – 15:10\n中性子反射率法による機能性高分子薄膜の評価\n田中敬二（九州大学）\n\n\n15:10 – 15:30\n休憩\n \n\n\n15:30 – 15:50\n中性子反射率法によるゴム材料の研究\n増井友美（住友ゴム）\n\n\n15:50 – 16:10\n中性子反射率法による表面接着層の観察\n宮﨑　司（日東電工）\n\n\n16:10 – 16:30\nリチウム電池における電極/電解液界面のオペランド観察\n原田雅史（豊田中研）\n\n\n16:30 – 16:50\n（題目未定）\n（調整中）\n\n\n15:50 – 17:10\n（題目未定）\n（調整中）\n\n\n共催\n中性子産業利用推進協議会茨城県中性子利用促進研究会総合科学研究機構 東海事業センター （CROSS東海）J-PARC/MLF利用者懇談会
URL:https://archive2019nt.cross.or.jp/events/v15025/
LOCATION:研究社英語センター大会議室\, 神楽坂1-2\, 新宿区\, 東京都\, 162-0825\, Japan
CATEGORIES:研究会
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